论文研究氢气氛围下退火对氧化镓薄膜性质的影响 .pdf 上传者：Xieminsen 2020-05-15 18:31:40上传 PDF文件 476.25KB 热度 56次 氢气氛围下退火对氧化镓薄膜性质的影响，牛成军，夏晓川，采用MOCVD制备了ε-Ga2O3薄膜样品，利用X射线衍射仪（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）、紫外可见分光光度计和半导体特性分析仪等表征手段� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
