FormFactor发表DRAM晶圆探针卡PH150XP

FormFactor发表PH150XP晶圆探针卡,扩展其PH150系列DRAM晶圆测试产品的阵容。PH150XP探针卡提供多项良率与处理量提升的功能,让DRAM制造商能进一步降低整体测试成本。PH150XP探针卡样本已开始供应予各大内存领导制造商进行评估测试。 PH150XP能辅助FormFactor刚于一月推出的新款Harmony XP晶圆探测解决方案。Harmony XP探针卡是针对1GB与更高密度DRAM组件的全区域12寸晶圆所设计,而PH150XP则属低成本解决方案,专门探测每片晶圆必须进行4次以上的小尺寸、低密度DRAM组件(512MB以下)的接触测试。 PH1