射频磁控溅射司太立合金淀积薄膜的主要元素成份测量(1993年) 上传者：wuruoyin 2024-07-08 23:47:57上传 PDF文件 131.61KB 热度 1次 采用组份均匀薄膜近似，对射频磁控溅射的司太立沉积薄膜进行了背散射测量，结果发现薄膜中钨的含量与司太立靶材相一致，表明采用该工艺直接由司太立靶材制备司太立薄膜是可行的。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 收藏 腾讯 微博 用户评论 发表评论 wuruoyin 资源：457 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
