边界扫描SRAM簇板级互连测试研究

1 引言 边界扫描技术已成为了VLSI和ASIC测试的重要方法,但是,尽管边界扫描器件越来越多,非边界扫描器件仍然大量存在。在复杂电路设计中,VLSI和ASIC虽然能够完成电路的许多功能,但并不是所有的逻辑功能都可以集成,相当多的功能仍需要采用分离器件或通用集成电路实现,而它们很少支持边界扫描。因此,由边界扫描器件和非边界扫描器件组装的非完全BS器件电路板仍将在今后相当长时间内广泛存在,它们的测试问题已成为板级边界扫描测试技术需要研究的关键问题。随机存取存储器(RAM)是一种应用极为广泛的电子元件,但由于成本和结构复杂性的原因,RAM的的设计很少包含边界扫描结构,设计中也无法用其他器件所替代。