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JTAG边界扫描介绍

上传者: 2019-01-18 16:43:49上传 PDF文件 61.18KB 热度 50次
JTAG(Joint Test Action Group联合测试行动小组)是一种国际标准测试协议IEEE 1149.1 兼容),主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持 JTAG 协议,如 DSP、 FPGA 器件等。标准的 JTAG 接口是 4 线: TMS、 TCK、 TDI、 TDO,分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。 JTAG 最初是用来对芯 片进行测试的,基本原理是在器件内部定义一个 TAP( Test Access Port测试 访问口)通过专用的 JTAG 测试工具对进行内部节点进行测试。
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