基于边界扫描技术的数字系统测试研究 上传者:male16751 2020-10-28 06:01:58上传 PDF文件 184.76KB 热度 34次 介绍了支持JTAG标准的IC芯片结构、边界扫描测试原理以及利用边界扫描技术控制IC芯片处于特定功能模式的方法。针对IC芯片某种特定的功能模式给出了设计思路和方法,并用两块xc9572 pc84芯片互连的PCB板为例进行设计分析和实验实现。通过实验实现,体现了边界扫描技术易于电路系统调试和方便系统设计的特点,且设计的系统控制逻辑简单方便,易于实现。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论