基于边界扫描技术的板级测试分析

随着支持IEEE1149.1标准的边界扫描芯片的广泛应用,传统的电路板测试方法如使用万用表、示波器"探针",已不能满足板级测试的需求,相反一种基于板级测试的边界扫描技术得到了迅速发展。对边界扫描测试技术的原理进行了剖析,根据边界扫描测试系统的使用规则对板级测试方法进行了分析、提出了整体测试流程,最后在通用测试的基础上进行了二次开发,提出了提高电路板测试覆盖率的方法。