Microdefects in heavily phosphorusdoped Czochralski silicon 上传者：qinsancai 2020-06-02 19:00:13上传 PDF文件 298.16KB 热度 19次 重掺磷直拉硅单晶的微缺陷，王镇辉，马向阳，本文研究了重掺磷直拉硅单晶中氧沉淀和流动图案两种微缺陷以及它们之间的相互关系.两步法高温热处理用于形成氧沉淀.研究表明体微� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 收藏 腾讯 微博 用户评论 发表评论 qinsancai 资源：425 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
