Correlation between oxygen precipitation and extended defects in Czochralski sil 上传者：w17780help 2020-02-24 08:20:15上传 PDF文件 248.38KB 热度 23次 红外扫描显微镜法研究直拉硅单晶中氧沉淀和诱生缺陷的关系，曾俞衡，马向阳，通过红外扫描显微镜法（SIRM）和择优腐蚀加光学显微镜法，我们研究经过不同等温退火处理的直拉硅单晶中氧沉淀尺寸与氧沉淀产生诱� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 w17780help 资源：456 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
