基于BIST利用ORCA结构测试FPGA逻辑单元的方法

现场可编程门阵列FPGA(Field ProgrammableGate Array)是一种新型器件,它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体,因而受到广泛关注。FPGA 测试中,测试激励的多种测试生成方法,都有其一定局限性,不能求出所有故障,而且随着集成电路规模的迅速膨胀,电路结构也越来越复杂,大量的故障变得不可测。所以,人们把视线转向了电路系统的设计过程。如果设计的电路容易测试,容易找到测试码,对测试和测试码的生成问题就大大简化,这就是可测性设计问题。可测性设计问题的一个主要解决方法就是内建自测法BIST(Built-in self-test)。 FPGA可重复编程的特性