EDA/PLD中的基于BIST的FPGA逻辑单元测试方法

摘 要:给出了一种基于内建自测(BIST)的测试现场可编程门阵列(FPGA)逻辑单元的方法,讨论了测试的配置结构、故障覆盖率和测试中出现的问题及解决办法。实验表明,该测试方法具有所需测试向量少、故障覆盖率高、简便适用等优点。 关键词:现场可编程门阵列;内建自测;响应检验电路;测试 引 言 现场可编程门阵列FPGA(Field ProgrammableGate Array)是一种新型器件,它将门阵列的通用结构与现场可编程的特性结合于一体,因而受到广泛关注。FPGA 测试中,测试激励的多种测试生成方法,都有其一定局限性,不能求出所有故障,而且随着集成电路规模的迅速膨胀,电