Memory bist测试方法.docx 上传者：shellyfen 2020-09-04 03:54:12上传 DOCX文件 807.16KB 热度 123次 以固定形式扫描存储器阵列 其中包括全写0或者全写1情况,最后一步为读取所有存储单元。测试次数与存储单元容量N成正比,关系为测试次数T=4N。这种算法可以测试SAF故障,还可为施加其他测试序列做好准备。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
