基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试 上传者：cfanser 2020-09-15 02:55:30上传 PDF文件 152.71KB 热度 47次 本文的设计是基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试。由于FPGA芯片价格的不断下降和低端芯片的不断出现,使用FPGA作为主控芯片可以更适合于市场,且有利于对性能进行扩展。实验表明,该系统设计合理,能对被测芯片进行准确的功能测试。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
