电子测量中的基于扫描的SOC全速测试及应用

随着现代超大规模集成电路的规模日趋增大,对集成电路测试的要求也在不断提高。对于工作在高速下的数字系统,不光要针对其逻辑结构进行测试,还要求其信号能在指定周期内达到稳定状态。这大大提高了测试要求,不仅要求对电路逻辑缺陷进行测试并且要求设计者能对时序缺陷进行测试。因此为了提高测试质量和满足时序测试的要求,必须在额定时钟速度下施加测试矢量并观察响应,即进行全速(at-speed)测试。 1 转换故障、路径延迟故障的模型以及测试矢量生成进行全速测试,首先是要选择测试时针对的故障模型,最常用的全速测试模型有转换故障模型和路径延迟故障模型两种。转换故障是指电路中的缺陷使单条连线上传播的信号变慢,信号变慢