电子测量中的减小SoC系统测试功耗的方法

减小SoC系统测试功耗的方法 空军工程大学 吴刚 王立志 引言 随着现代半导体技术的发展,将整个系统集成在一个芯片上成为可能,即通常所说的片上系统集成SoC(System-on-chip)。由于SoC的结构特点,DFT成为SoC设计中的一项关键技术。由于任何一种测试方法的基本原理都是敏化和传递故障,因此不可避免地使电路内部节点的翻转情况变得更加密集,同时逻辑设计所采用的低功耗设计在测试模式下通常无法起作用,从而在测试模式下必