1. 首页
  2. 数据库
  3. Informix
  4. 电子测量中的SoC测试的发展趋势及挑战

电子测量中的SoC测试的发展趋势及挑战

上传者: 2020-12-13 11:38:48上传 PDF文件 103.86KB 热度 12次
1前言 随着半导体科技的进步,我们已经可以把越来越多的电路设计在同一个芯片中,这里面可能包含有中央处理器(CPU)、嵌入式内存(Embedded memory)、数字信号处理器(DSP)、数字功能模块(Digital function)、模拟功能模块(Analog function)、模拟数字转换器(ADC, DAC)以及各种外围配置(USB, MPEG,...)等等,这就是我们所说的SoC(系统单芯片)技术。目前,很多具有中央处理器功能的消费性电子产品,如视频转换器(Set-top box)、移动电话(mobile phones)和个人数字助理(PDA)等等,都可称之为SoC芯片。这类产品不
下载地址
用户评论