电子测量中的基于边界扫描技术的数字系统测试研究

当今,微电子技术已经进入超大规模集成电路(VLSI)时代。随着芯片电路的小型化及表面封装技术(SMT)和电路板组装技术的发展,使得传统测试技术面临着巨大的挑战。在这种情况下,为了提高电路和系统的可测试性,联合测试行动小组(JTAG)于1987年提出了一种新的电路板测试方法--边界扫描测试,并于1990年被IEEE接纳,形成了IEEE1149.1标准,也称为JTAG标准[1]。这种技术以全新的"虚拟探针"代替传统的"物理探针"来提高电路和系统的可测性。由于JTAG标准的通用性很好,现在许多IC公司都提供了支持边界扫描机制的IC芯片,甚至部分FPGA和CPLD芯片也采用了这一技术。 本文介绍支持J