电子测量中的Cascade Microtech新型WinCal XE软件支持晶圆级RF测量

具有复杂多端口RF架构的无线消费类电子设备的激增已促使工程师在他们晶圆级RF器件上进行更困难、更复杂的RF测量。为简化这一流程,Cascade Microtech已扩展了其广受欢迎的WinCal校准软件的功能,包含了将提供更快速、更精确的晶圆级RF测量的关键功能。 晶圆测试市场中独一无二的WinCal XE将高级校准功能与RF高精度增强功能进行了完美结合。通过可将操作员错误降至最低且功能强大的新型测量支持工具及指导系统,WinCal XE可实现精确、可靠的RF测量,而解决了当今复杂半导体设计中存在的这一真正问题。 WinCal XE在市场上首要的校准软件套件中增添了新功能: