弯曲应变下Si纳米线的原位原子尺度结构演变
弯曲应变下Si纳米线的原位原子尺度结构演变,王疆靖,郑坤,在透射电子显微镜中利用电子束辐照诱发碳支持膜卷曲变形技术,对单根[110]取向的Si纳米线实施原位弯曲变形,并利用高分辨获得了它�
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