电子束诱导原位共振测量单根SiC纳米线的弯曲模量
电子束诱导原位共振测量单根SiC纳米线的弯曲模量，张跃飞，韩晓东，SiC纳米线由于其具有优异的力学、物理和化学性质，是当前研究的热点，本文利用透射电子显微镜电子束原位诱一端固定的单根SiC纳米线
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