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电子束诱导原位共振测量单根SiC纳米线的弯曲模量

上传者: 2020-07-18 17:23:54上传 PDF文件 407KB 热度 19次
电子束诱导原位共振测量单根SiC纳米线的弯曲模量,张跃飞,韩晓东,SiC纳米线由于其具有优异的力学、物理和化学性质,是当前研究的热点,本文利用透射电子显微镜电子束原位诱一端固定的单根SiC纳米线
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