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Structural properties of In doped ZnO thin films analyzed by x ray diffraction a

上传者: 2020-07-19 00:25:07上传 PDF文件 426.86KB 热度 18次
掠射和θ-2θ方式X射线衍射分析In掺杂ZnO薄膜结构特性,兰伟,,采用溶胶凝胶法,结合旋转涂敷技术在石英衬底上制备了In掺杂ZnO薄膜.薄膜的结构特性使用掠角入射X射线衍射(GI-XRD)和常规X射线衍射共同�
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