SiC热氧化SiO2的光谱学表征研究 上传者：guandaxian 2020-07-18 01:29:27上传 PDF文件 390.74KB 热度 18次 SiC热氧化SiO2的光谱学表征研究，田晓丽，石瑞英，C元素的存在及其诱生的空位型缺陷影响SiC热氧化SiO2层的质量及SiC MOS器件的击穿特性。本文利用红外光谱研究了6H-SiC上热氧化生长的SiO2� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 guandaxian 资源：406 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
