SiC热氧化SiO2的红外光谱研究 上传者:hhhhjjhh 2020-02-27 14:31:40上传 PDF文件 464.25KB 热度 54次 SiC热氧化SiO2的红外光谱研究,田晓丽,龚敏,SiC热氧化时由于C元素的存在及其诱生的空位型缺陷,影响SiO_2层的质量、SiO_2/SiC界面及SiCMOS器件的击穿特性。本文采用红外光谱技术研� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论