带电的防de Sitter黑洞的不稳定性

我们研究了带电的反de Sitter黑洞在四维或更高维碎裂下的不稳定性。 碎片作用下的不稳定黑洞可分为两个黑洞。 不稳定性不仅取决于黑洞的质量和电荷，还取决于碎片化的黑洞与其前身之间的比率。 我们发现近端黑洞是不稳定的，而Schwarzschild-AdS黑洞是稳定的。 这些在质量上类似于四个维度或更高维度上的黑洞。 通过数值研究了详细的不稳定性。