论文研究-NMOS器件热载流子效应非线性退化加速寿命实验研究 .pdf 上传者：Xieminsen 2020-07-16 04:56:42上传 .PDF文件 390KB 热度 49次 NMOS器件热载流子效应非线性退化加速寿命实验研究 ，王祺，程秀兰，本文报告了Vg=Vd应力模式下NMOS器件受热载流子效应影响的实验。在实验中，饱和电流呈非线性退化，通过实验数据分析了潜在的退化机制 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
