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论文研究-NMOS器件热载流子效应非线性退化加速寿命实验研究 .pdf

上传者: 2020-07-16 04:56:42上传 .PDF文件 390KB 热度 21次
NMOS器件热载流子效应非线性退化加速寿命实验研究 ,王祺,程秀兰,本文报告了Vg=Vd应力模式下NMOS器件受热载流子效应影响的实验。在实验中,饱和电流呈非线性退化,通过实验数据分析了潜在的退化机制
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