论文研究功率MMIC芯片加速寿命试验方法研究 .pdf 上传者：houguof 2019-09-13 18:49:06上传 PDF文件 369.82KB 热度 59次 功率MMIC芯片加速寿命试验方法研究，周俊，高立，本文分析了单片微波集成电路(MMIC)芯片的主要失效模式和失效机理，其与MESFET等有源器件的主要失效模式和失效机理基本相似，并简要介 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
