VLSI_Test_Principles_and_Architectures_Design_for_Testability.pdf 上传者:asia4660 2020-06-08 06:50:43上传 PDF文件 5.66MB 热度 48次 超大规模集成电路测试原理和结构,适合可测性设计工程师和在读研究生和博士生。VLSIDFT经典书籍。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论