VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

Name: VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability
Rating: 4.5 (44 reviews)
Author: jinsi39673

上传者：jinsi39673 2019-07-17 15:51:47上传 PDF文件 5.66MB 热度 44次

一本很好的关于VLSI测试的书，英文版相当不错，推荐给大家！

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: 码姐姐匿名网友 2019-07-17 15:51:47

这学期正好要学！！感谢！！！

VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

一本很好的关于VLSI测试的书，英文版相当不错，推荐给大家！

大小：0B | 2019-07-17 15:51:47
VLSI_Test_Principles_and_Architectures_Design_for_Testability

VLSI经典书籍，中文这方面的书籍基本没有，雷绍充那本错误太多，这本是英文版本，没有中文版本

大小：0B | 2020-02-28 16:07:00
VLSI_Test_Principles_and_Architectures_Design_for_Testability.pdf

超大规模集成电路测试原理和结构，适合可测性设计工程师和在读研究生和博士生。VLSIDFT经典书籍。

大小：0B | 2020-06-08 06:50:43
VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES

VLSI testing经典书籍,详细介绍了fault simulation, BIST,test ...

大小：0B | 2018-12-09 10:41:17
VLSI Test Principles and Architectures

集成电路测试方面必读书籍，完整介绍集成电路测试概念。

大小：0B | 2019-06-01 13:53:28
DFT经典资源VLSI Test ptinciples and architectures design for testability

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对数字电路设计初学者很有用的一本书，这个是第一版，稍微有点旧，但只是内容不变

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可测性设计 DFT的权威资料经典实用不可多得

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