VLSI_Test_Principles_and_Architectures_Design_for_Testability

Name: VLSI_Test_Principles_and_Architectures_Design_for_Testability
Rating: 4.5 (56 reviews)
Author: zzykynr67

上传者：zzykynr67 2020-02-28 16:07:00上传 PDF文件 5.66MB 热度 56次

VLSI经典书籍，中文这方面的书籍基本没有，雷绍充那本错误太多，这本是英文版本，没有中文版本

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VLSI_Test_Principles_and_Architectures_Design_for_Testability

VLSI经典书籍，中文这方面的书籍基本没有，雷绍充那本错误太多，这本是英文版本，没有中文版本

大小：0B | 2020-02-28 16:07:00
VLSI Test Principles and Architectures Design for Testability

一本很好的关于VLSI测试的书，英文版相当不错，推荐给大家！

大小：0B | 2019-07-17 15:51:47
VLSI_Test_Principles_and_Architectures_Design_for_Testability.pdf

超大规模集成电路测试原理和结构，适合可测性设计工程师和在读研究生和博士生。VLSIDFT经典书籍。

大小：0B | 2020-06-08 06:50:43
VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES

VLSI testing经典书籍,详细介绍了fault simulation, BIST,test ...

大小：0B | 2018-12-09 10:41:17
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