考虑埋氧层电荷时的SOI高压器件纵向耐压模型
考虑埋氧层电荷时的SOI高压器件纵向耐压模型,郭宇锋,罗晓蓉,本文建立了具有Si/SiO2界面电荷的SOI高压器件新结构纵向耐压模型,该模型表明,在硅和埋氧层界面上引入界面电荷可以克服常规SOI纵向�
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