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基于JTAG的MBIST设计实施论文

上传者: 2024-04-13 00:47:18上传 PDF文件 242.93KB 热度 3次

这篇论文是关于基于JTAG的MBIST设计实施的研究。它探讨了如何利用JTAG技术来实现MBIST设计,为了提高测试效率和减少测试成本。通过使用JTAG,可以实现对芯片内部测试结构的控制和访问,从而实现对内部存储器的自动测试。这项研究提出了一种基于JTAG的MBIST设计方案,并对其进行了实现和验证。该方案能够有效地提高测试覆盖率,并且在实际应用中取得了良好的效果。

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