基于JTAG的星型扫描接口的设计及其仿真 上传者:sdl55474 2020-08-19 14:00:17上传 PDF文件 259.38KB 热度 41次 边界扫描测试技术飞速发展,测试与调试功能不断增强,硬件IP模块向集成多个内核方向发展,以往芯片中传统的测试访问端口(TAP)中嵌入单一的测试访问端口控制器(TAPC)逐渐被系统芯片中嵌入多个TAPC所取代。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论