提高ASIC测试效率的可测试性设计技巧 上传者：Лезгинка 2023-05-13 08:34:11上传 PDF文件 1.47MB 热度 50次 在ASIC设计过程中，可测试性设计是至关重要的环节，一些提高ASIC测试效率的可测试性设计技巧，包括建立良好的测试结构和测试时序等。通过合理应用这些技巧，能够在极大程度上提高ASIC的测试质量和测试效率。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
