经硬件仿真验证的可测试性设计 (DFT)

最近的统计数据表明:制造完成后,测试芯片是否存在制造缺陷(与不存在设计缺陷相比)的成本已增至制造成本的 40%。以上诸多因素推动了电子行业能够想方设法在设计阶段就将可测试性置入芯片,从而降低测试成本。该方法称为可测试性设计 (DFT)本文为大家介绍一下硬件仿真验证的可测试性设计。