一种数字集成电路测试系统的设计

测试测量技术一种数字集成电路测试系统的设计随着数字集成电路的广泛应用,测试系统就显得越来越重要。在网络化集成电路可靠性试验及测试系统项目中,需要检验某些具有宽电平范围的军用数字集成电路芯片,而市场上常见的中小型测试系统可测电平范围达不到要求,而大型测试系统价格昂贵。本文介绍了为此项目研制的一种数字集成电路测试系统,可测电平范围达±32V,使用方便,且成本较低。测试系统结构及工作原理系统需要对集成电路进行功能测试和直流参数测试。功能测试通过向集成电路输入端施加设定的测试向量,检测并比较其输出的测试向量,从而验证器件的逻辑功能是否正常。直流参数测试是以电压或电流的形式验证集成电路的电气参数,要保证较高的测试精度。为了使系统结构灵活,便于升级,采用了基于总线的模块化结构,其结构如图1所示。系统由通道板、数控电源板(DPS板)、精密测量单元板(PMU板)、测试接口板、单片机系统板(CPU板)和总线板组成。各个板卡通过总线板进行数据连接和交换。DPS板给测试系统提供电源、电压参考,给被测器件(DUT)提供工作电压。测试接口板功能是给DUT提供测试接口,给器件上电。[pic]在功能测试过程中,计算机把预先生成的测试向量送到单片机系统,单片机控制通道板把信号电平转换为测试所需的电平,并把转换后的时序波形施加到待测器件(DUT)的输入管脚上,然后检测DUT的输出,把检测结果通过总线传到单片机进行判断处理。直流参数测试过程是向DUT施加直流参数测试条件