电子测量中的一种数字集成电路测试系统的设计

摘要:介绍了一种数字集成电路测试系统的工作原理、组成。提出了系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构,可测试电平范围宽。 关键词:数字集成电路 测试功能 测试通道板 精密测量单元 随着数字集成电路的广泛应用,测试系统就显得越来越重要。在网络化集成电路可靠性试验及测试系统项目中,需要检验某些具有宽电平范围的军用数字集成电路芯片,而市场上常见的中小型测试系统可测电平范围达不到要求,而大型测试系统价格昂贵。本文介绍了为此项目研制的一种数字集成电路测试系统,可测电平范围达±32V,使用方便,且成本较低。 测试系统结构及工作原理 系统需要对集成电路进行功能