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AlGaN / GaN HEMT的改进DC模型

上传者: 2021-05-01 02:50:16上传 PDF文件 124.18KB 热度 19次
本文提出了一种改进的GaN高电子迁移率晶体管HEMT的DC IV特性的经验模型。 改进之处在于允许Curtice模型参数随栅极-源极电压而变化。 模型参数提取是针对100微米栅宽的GaN HEMT。 在建模结果和测量结果之间获得了很好的一致性。
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