基于软件的空间辐照下FPGA可靠性设计方法

FPGA以其集成度高、灵活性强、开发周期短的特点,在航天领域得到了越来越广泛的应用。然而,其工作的空间环境存在着大量γ光子、辐射带电子、高能质子等高能粒子。这些高能粒子轰击到器件上,会产生总剂量效应(Total Ionizing Dose, D)、单粒子翻转(Single Event Upset, SEU)、单粒子锁定(Single Event Latchup, SEL)、单粒子烧毁(Single Event Bumout,SEB)、单粒子栅击穿(Single Event Gate Rupture, SEGR)、内带电效应等空间辐射效应[1]。这些效应对基于SRAM的FPGA的影响尤为明显。现