工业电子中的基于试验设计技术的IC优化设计

摘要:现代集成电路(IC)的优化设计主要依靠EDA工具完成。但是针对多指标、多参数的IC设计,单纯依靠EDA工具存在效率低以及指标和参数个数限制等问题。从试验设计技术出发,以EDA仿真作为实验,建立指标与参数的统计模型,进而优化设计电路,解决了上述问题。将该方法应用于4参数、3指标的低功耗集成运放的设计,仅通过16轮仿真试验,得到了电路指标最优情况下的参数设置。该方法对多指标、复杂参数的集成电路的优化设计更具优越性。 关键词:试验设计技术;统计模型;低功耗集成运放;仿真试验 集成电路设计与优化时,在基本功能实现的情况下为了使电路指标符合要求或者达到最优,我们将调整许多参数,如电路元