选择硬件在环(HIL)测试系统I/O接口 上传者：u59677 2020-10-28 07:58:23上传 PDF文件 83.24KB 热度 46次 高性能模块化的I/O接口是构建成功硬件在环测试系统所必须的。硬件在环(HIL)测试系统体系结构教程讨论了多种硬件在环测试系统体系结构和用于实现的实时处理技术。本教程讨论了多种I/O接口选项,能够用于实时处理器创建您的硬件在环测试系统。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
