NI硬件在环（HIL）合集：测试赋能创新 上传者：gram_5530 2022-07-06 22:58:49上传 PDF文件 1.58 MB 热度 16次 HIL是一种嵌入式软件测试技术，该技术使用软件模型来模拟真实的测试系统，并连接来自控制器的真实信号，这使控制器误以为自己安装在了组装好的的产品中，然后就像在真实系统中一样，进行测试和设计迭代。通过这种方式，工程师可以轻松应对数千种可能的情况，正确地运行控制器，节省物理测试所需的成本和时间。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 gram_5530 资源：1 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
