短沟道MOSFET散粒噪声测试方法研究

Name: 短沟道MOSFET散粒噪声测试方法研究
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Author: gxl26683

上传者：gxl26683 2020-10-28 06:57:02上传 PDF文件 170.56KB 热度 32次

近年来随着介观物理和纳米电子学对散粒噪声研究的不断深入,人们发现散粒噪声可以很好的表征纳米器件内部电子传输特性。

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