基于STM32的偏振相关损耗测量系统设计

设计了一种基于ST公司CortexM4内核的ARM系列产品STM32F407ZG偏振相关损耗测量系统,包括系统设计理论、软硬件设计结构及实现方法。光通过偏振控制器调整偏振态,通过待测物后送往后续的光电转换模块,经放大过滤到达A/D采集模块,最后送往主控单元M4进行处理完成测量。