基于STM32的频谱幅频特性测量系统设计与实现

基于STM32的频谱幅频特性测量系统设计与实现

介绍了一种基于STM32微控制器的频谱幅频特性测量系统。该系统利用STM32强大的计算和控制能力，结合相关传感器和信号处理算法，实现了对信号频谱幅频特性的精确测量。

系统主要功能：

• 信号采集与预处理：利用STM32内置的ADC模块对模拟信号进行采集，并进行数字滤波等预处理操作。
• 快速傅里叶变换：采用FFT算法将时域信号转换为频域信号，得到信号的频谱信息。
• 幅频特性计算：根据频谱数据计算信号在不同频率点上的幅值，得到信号的幅频特性曲线。
• 结果显示与存储：通过LCD屏幕或串口通信将测量结果进行显示和存储。

系统特点：

• 高精度：采用高性能ADC和精确的时钟源，保证了测量结果的精度。
• 实时性：STM32强大的计算能力可以实现信号的实时处理和显示。
• 可扩展性：系统设计灵活，可以根据实际需求扩展其他功能，如信号发生、滤波器设计等。

应用领域：

• 信号分析与处理
• 电子电路设计与调试
• 振动测试与分析
• 音频设备测试