论文研究 集成电路互连可靠性全球趋势的回顾 上传者：kksbb 2020-08-22 03:07:09上传 PDF文件 1.13MB 热度 35次 从集成电路(IC)的早期设计阶段开始,互连可靠性已被视为一门必须认真考虑的学科。 为了研究互连可靠性的现状和趋势,对已发表的文献进行了全面回顾。 这可以描述IC互连可靠性的全球趋势,并帮助新进入者了解这一领域的现状。 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
