数字集成电路门控时钟可靠性研究

在超大规模集成电路设计中,门控时钟技术是最常采用的低功耗设计技术。然而,由于时钟信号的特殊性和敏感性,门控时钟设计极容易造成功能错误、时序恶化和测试覆盖率降低,针对这三方面的风险,提出多种门控时钟的优化技术,包括异步门控时钟的检查和排除、可测性设计中的门控时钟优化技术和门控时钟设计中的时序优化技术,确保在数字集成电路设计过程中门控时钟设计在降低功耗收益最大化的同时,能够规避设计风险,提升电路可靠性。