论文研究 使用微米和纳米尺寸探针测量溶液中力的比较研究

原子力显微镜（AFM）是一种不仅用于高分辨率成像而且还用于测量力的设备。 可以量化胶体和纳米探针以及二氧化硅表面的表面密度变化。 通过更改氯化钾溶液中的离子量，可以评估附着在AFM胶体探针，纳米探针和二氧化硅样品上的离子量。 在这项研究中，以不同的离子浓度测量了AFM探针和二氧化硅表面之间的力。 使用了两种不同类型的AFM探针：半径为500纳米的胶体探针和半径为10纳米的纳米探针。 这项研究的重点是通过改变离子浓度来测量两种探针之间的力大小，尤其是双电层力如何变化。 对于所有测试试验，结果均与电气双层理论相符。 尽管微米探针几乎可以在所有范围内精确匹配，但是纳米探针在其短程力范围内最为接近。