凹型掺杂层位置对GaN Gunn diode输运区中深能级缺陷分布影响 上传者：bbgoods 2020-06-03 13:20:57上传 PDF文件 438.68KB 热度 12次 凹型掺杂层位置对GaNGunndiode输运区中深能级缺陷分布影响，李亮，杨林安，本文首先通过Transmissionelectronmicroscopy(TEM)研究了凹形掺杂层位置对输运区长度1um的GaNGunndiode中刃位错分布的影响。相比顶部凹形槽掺� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论 bbgoods 资源：459 粉丝：0 +关注 上传资源 免责说明 本站只是提供一个交换下载平台，下载的内容为本站的会员网络搜集上传分享交流使用,有完整的也有可能只有一分部,相关内容的使用请自行研究,主要是提供下载学习交流使用,一般不免费提供其它各种相关服务! 本站内容泄及的知识面非常广,请自行学习掌握,尽量自已动脑动手解决问题,实践是提高本领的途径,下载内容不代表本站的观点或立场!如本站不慎侵犯你的权益请联系我们,我们将马上处理撤下所有相关内容！联系邮箱：server@dude6.com
