论文研究面向OLED屏像素缺陷检测的新方法.pdf

有机发光显示器OLED（OrganicLED）的内部像素缺陷常由于尺寸小、对比度不高、且灰度与像素轮廓灰度相近等问题，在使用传统阈值分割方法处理时会将像素轮廓保留下来，因而不能达到缺陷的有效检测目的。提出一种多次迭代差影法的OLED屏像素缺陷检测方法。该检测算法在对图像进行中值滤波和图像增强处理后，对图像实施多次像素模板提取和差影运算，获取到对比度较低的缺陷图，运用K-均值聚类方法对图像进行分割，从而较好地实现缺陷的识别。运用Labview和IMAQVision软件包工具，编程实现所提出的算法，并通过实际获取的OLED图片验证了方法的有效性。结果表明，该方法能很好地保持缺陷的细节，并能检测