论文研究基于MapReduce的液晶屏缺陷检测方法.pdf

5th液晶屏在生产过程中会产生多种类型的缺陷，通过单一节点进行缺陷检测存在存储资源和计算时间的瓶颈。利用Hadoop集群的分布式计算、存储能力处理海量的高分辨率液晶屏图像是一个新的思路。针对高分辨液晶屏图像缺陷局部性特点，设计基于MapReduce的分布式缺陷检测方法，对高分辨率图像分块，并行完成每块图像的缺陷检测，再将检测结果归并，从而解决高分辨率图像缺陷检测效率低下问题。通过运行在Hadoop平台上的实验表明，该方法在完成缺陷检测的同时具有良好的效率提升。